Científicos alemanes han desarrollado con éxito un microscopio de haces de antimateria que puede aplicarse para detectar defectos en materiales que hasta ahora eran imposibles de detectar. Por ejemplo, la mayoría de los semiconductores consisten en un patrón repetido de átomos. Si se produce un fallo o falta de uno de ellos, el microchip fabricado con ese semiconductor puede fallar. El nuevo microscopio con un haz de positrones o antielectrones, es capaz de detectar tales fallos.